薄膜の干渉スペクトルの測定による屈折率の波長依存性の決定

dc.contributor.author	松村, 敬治	ja
dc.date.accessioned	2023-09-01T01:00:15Z
dc.date.available	2023-09-01T01:00:15Z
dc.date.issued	2023-08
dc.identifier.issn	1880-3830	ja
dc.identifier.uri	http://repository.seinan-gu.ac.jp/handle/123456789/2442
dc.language.iso	jpn	ja
dc.publisher	西南学院大学学術研究所	ja
dc.title	薄膜の干渉スペクトルの測定による屈折率の波長依存性の決定	ja
dc.title.alternative	Determination of Optical Wavelength Dependence of Refractive Index by Measuring Interference Spectra of Thin Films	ja
dc.contributor.transcription	マツムラ, ケイジ	ja-Kana
dc.contributor.alternative	Matsumura, Keiji	en
dc.publisher.alternative	Seinan Gakuin University Academic Research Institute	ja
dc.type.niitype	Departmental Bulletin Paper	ja
dc.identifier.jtitle	西南学院大学人間科学論集	ja
dc.identifier.volume	19	ja
dc.identifier.issue	1	ja
dc.identifier.spage	145	ja
dc.identifier.epage	154	ja
dc.textversion	publisher	ja
jpcoar.creator.nameIdentifierNRID	1000040157350
jpcoar.creatorAffiliation.nameIdentifierKakenhi	37105
dc.teacher.researchmap-id	R000052161
dc.teacher.researchmap-url	TzLYkmAyRQvgXBoOncsU